HELMUT FISCHER 菲希爾代理 X射線 XDL230

菲希爾X射線測厚儀XDL230核心技術參數

測量原理：X 射線熒光光譜法 (XRF)，無損檢測。

元素分析范圍：氯 (Cl, 原子序數 17) 至 鈾 (U, 原子序數 92)。

測量能力：

最多可同時分析 24 種元素、23 層鍍層。

厚度范圍：納米級至毫米級。

精度：重現性變異系數 < 0.5%；厚度≥0.5μm 時，頂層精度 ≤5%。

HELMUT FISCHER 菲希爾代理 X射線 XDL230 X 射線系統：

射線管：鎢靶，帶鈹窗口。

高壓：30kV / 40kV / 50kV 三檔可調。

準直器：標配 φ0.3mm，可選 φ0.1mm/0.2mm 及矩形。

最小光斑：約 0.2mm (φ0.1mm 準直器)。

探測器：比例計數器 (PC)。

樣品臺：

手動 XY 軸：移動范圍 95 × 150 mm。

電動 Z 軸：行程 140 mm。

DCM 距離補償：支持 0-80mm 深腔測量。

定位系統：40-160 倍 高分辨率 CCD 攝像頭 + 激光定位。

分析方法：菲希爾基本參數法 (FP)，支持無標樣測量。

尺寸與重量：570 × 760 × 650 mm；107 kg。