菲希爾XDLM237 X射線測厚儀代理

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心定位與特點

全自動測量：搭載可編程電動 XY+Z 軸樣品臺，支持批量零件自動掃描與多點測量。

微聚焦高精度：最小光斑直徑 0.1 mm，專為微小精密零件（如連接器、引腳）設計。

自上而下測量：適合曲面、異形件，不受樣品平整度限制。

大樣品兼容：機身帶 C 型開槽，可測量超大面積 PCB 等扁平工件。

符合國際標準：測量符合 DIN ISO 3497 與 ASTM B 568。

詳細技術參數

1. 核心系統

X 射線源：微聚焦鎢靶射線管，三檔高壓（10 / 30 / 50 kV）

探測器：比例計數管（Proportional Counter）

測量元素：鋁 (Al, 13) — 鈾 (U, 92)，可同時分析 ≤24 種元素

測量模式：單層 / 多層鍍層厚度、合金成分、有害物質（RoHS）篩查

2. 光學與定位

準直器（4 種）：0.1 mm / 0.3 mm / 0.6 mm / 0.5×0.15 mm 狹縫

濾光片（3 種）：鎳 (Ni) / 鋁 (Al) / 無濾光

定位系統：CCD 彩色攝像頭（40–160 倍變焦）+ 激光定位 + LED 照明

距離補償： DCM 技術，自動補償樣品高度差異

3. 樣品臺（XDLM 237）

XY 行程：255 × 235 mm

Z 軸行程：140 mm

移動速度：≤ 80 mm/s

重復精度：XY ≤ 0.01 mm

樣品高度： 140 mm

承重：標準 5 kg / 20 kg（精度降低）

4. 物理規格

尺寸：570 × 760 × 650 mm (W×D×H)

重量：約 120 kg

電源：115/230 V, 50/60 Hz

功耗： 120 W